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影響電壓擊穿試驗(yàn)儀的主要原因（介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀）擊穿電壓的主要因素影響固體介質(zhì)擊穿電壓的因素甚多，下面介紹幾種主要的影響因素。電壓作用時(shí)間如果電壓作用時(shí)間很短，固體介質(zhì)的擊穿往往是電擊穿，擊穿電壓當(dāng)然也較高。隨著電壓作用時(shí)間的增長(zhǎng)，擊...

介質(zhì)損失角正切tgδ越大介質(zhì)損耗越大嗎（電壓擊穿試驗(yàn)儀/體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀）絕緣介質(zhì)在交流電壓作用下的介質(zhì)損耗有兩種：一是由電導(dǎo)引起的電導(dǎo)損耗，二是由極化引起的極化損耗。介質(zhì)中如無(wú)損耗，則流過(guò)的電流是純無(wú)功電容電流，并超前電壓向量9...

電壓擊穿試驗(yàn)儀軟件程序控制功能：☆1．該設(shè)備試驗(yàn)過(guò)程中可動(dòng)態(tài)繪制出試驗(yàn)曲線，試驗(yàn)的曲線可以多種顏色疊加對(duì)比，局部放大，曲線上任意一段可進(jìn)行區(qū)域放大分析。☆2．可對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行編輯修改，靈活適用；☆3．試驗(yàn)條件及測(cè)試結(jié)果等數(shù)據(jù)可自動(dòng)存儲(chǔ)；☆4...

電壓擊穿試驗(yàn)儀技術(shù)方法分析（供應(yīng)：體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀）1測(cè)試方法1.1標(biāo)準(zhǔn)的比較目前關(guān)于絕緣油擊穿電壓測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)比較常用的有GB/T507—1986《電氣用油絕緣強(qiáng)度測(cè)定法》和DL/T429—1991《電力系統(tǒng)油質(zhì)試驗(yàn)方法》，其...

體積電阻率和表面電阻率測(cè)試儀儀器技術(shù)指標(biāo)（供應(yīng)電壓擊穿試驗(yàn)機(jī)）1.電阻測(cè)量范圍：0.01×104Ω～1×1018Ω。2.電流測(cè)量范圍為:2×10-4A～1×10-16A3.雙表頭顯示:3.1/2位LED顯示4.內(nèi)置測(cè)試電壓：10V、50V、...

電壓擊穿試驗(yàn)儀直流電壓作用下的氣體介質(zhì)擊穿。可分為以下兩種。（供應(yīng)體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀）1、在電極間電場(chǎng)是均勻的情況下,氣壓低于1大氣壓（約0.1兆帕）時(shí),間隙擊穿電壓服從于帕邢定律。對(duì)于空氣介質(zhì)，擊穿電壓Ub可按經(jīng)驗(yàn)公式。進(jìn)行計(jì)算。...

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用說(shuō)明一.概述介質(zhì)損耗測(cè)試裝置可與本公司生產(chǎn)的各型號(hào)Q表配用，對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（損耗角正切值）的測(cè)試。介質(zhì)損耗測(cè)試裝置采用了帶數(shù)顯的微測(cè)量裝置，因而在測(cè)試時(shí)，讀數(shù)更直觀方便，數(shù)據(jù)更。二.工作特...